[ 日本結晶学会 ]
微粒子は結晶学的には不完全な構造と言えますが，学術的・実用的な重要性から，結晶学分野において現在最もホットな研究対象の一つとなっています。 評価の対象となる物質は粉体やコロイドだけにとどまらず，微結晶の集合体である金属やセラミックスなどの多くの実用材料，固体材料の表面に形成される微細構造も含まれます。
微粒子の大きさを評価するための多様な技術が知られていますが， 本講習会では，はじめにガス吸着法や光散乱法を含む微粒子の評価法について概説し， さらに特に結晶学と関連の深い実験手法である 電子顕微鏡とＸ線小角散乱法，広角Ｘ線回折法を利用して微粒子の大きさや構造を正しく評価するための基礎から最新の技術の紹介を含む実践的な内容の講習を行います。
新しい装置の導入や委託試験の依頼を検討されている方， 既存の装置を用いてより正確な評価を実現しようと思われる方にとって参考になる話題が提供されますので， ナノテクノロジー分野に限らず， セラミックス，金属，触媒，塗料，化粧品，医薬品など広い分野からの多数の受講者のご参加をお待ちしております。
2006 年 9 月 11 日（月）10:00 - 16:50
名古屋工業大学（名古屋市昭和区御器所）２号館１階F1 教室
（JR または地下鉄鶴舞駅から徒歩約 10 分）
80名（先着順）
日本結晶学会
応用物理学会，軽金属学会，高分子学会，日本鉄鋼協会，日本化学会， 日本金属学会，日本鉱物学会，日本材料学会，日本セラミックス協会， 日本分析機器工業会，日本表面科学会，日本物理学会，日本薬学会， 粉体工学会，日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会，東海若手セラミスト懇話会
一般（日本結晶学会および協賛学協会員）： 6,000 円
一般（非会員）： 8,000 円
学生： 3,000 円
（当日会場にて受付；テキスト代含む）
締切：2006 年 8 月 21 日 (月)
参加申込の受付は終了しました。最終期限：2006 年 8 月 31 日 (木)
| 09:30 | 受付開始 |
| 10:00 〜 10:20 | 粒径評価の基礎と概論 |
|---|---|
| （名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センター） 井田 隆 | |
| 10:30 〜 12:00 | 電子顕微鏡の利用 |
| （ファインセラミックスセンター）加藤丈晴 | |
| 12:00 〜 13:00 | （昼休み） |
| 13:00 〜 14:30 | Ｘ線小角散乱法 |
| （名古屋工業大学大学院）岡本 茂 | |
| 14:40 〜 16:10 | 広角粉末Ｘ線回折法 |
| （名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センター）井田 隆 | |
| 16:20 〜 16:50 | フリートーク |
| （テーマを限定せずに自由に疑問や意見を交換するための時間です。） |
〒507-0071 岐阜県多治見市旭ヶ丘10-6-29
名古屋工業大学 セラミックス基盤工学研究センター 井田 隆
TEL：0572-27-6811（代表），FAX：0572-27-6812（代表）
E-mail: ida.takashi@nitech.ac.jp
2006年9月11日更新